铜厚测量仪的丈量原理：

　　铜厚测量仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度.也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度.覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小.利用磁感应原理的铜厚测量仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度.一般要求基材导磁率在500以上.如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍).当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号.早期的产品采用指针式表头,丈量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度.近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度弥补等地新技术,利用磁阻来调制测量信号.还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。

　　铜厚测量仪采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。铜厚测量仪测量中的注意事项如下：

　　1、测量时，只有出现耦合图标并稳定时，才是良好的测量；

　　2、若被测体表面有大量耦合剂时，当探头离开被测体表面时，耦合剂会引起误测。因此测量结束时，应迅速将探头移开被测体表面。

　　3、探头表面为丙烯树脂，对粗糙表面的重划很敏感，因此在使用中应轻按；测粗糙表面时,尽量减少探头在工作表面的划动。

　　4、常温测量时，被测物表面不应超过60℃，否则探头不能再用。

　　5、若探头磨损，测量会出现示值不稳，此时应更换探头。