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铜厚量测仪的使用注意事项有哪些呢?
更新时间:2023-03-08   点击次数:586次
  铜厚量测仪又名铜厚量测仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
  铜厚量测仪在使用时,摆放在物件的上方,从仪器当中发射了垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成一个反射,另一部分则会透过仪器的薄膜,在薄膜与物件之间的界面开成反射,这个时候,薄膜的表面,以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这样的一种现象,从而测量出物件的厚度。厚度的测量看似简单,实测上所利用的光反射原理,却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用,便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。
  铜厚量测仪的使用注意事项:
  1.零点校准
  在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准,因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量,零点校准可以消除前次测量有参数的影响,能够降低测量的结果的误差,使测量结果更加精确。
  2.基体厚度不宜过薄
  在使用铜厚量测仪对物体进行测量时基体不宜过薄,否则会极大程度的影响仪器的测量精度,造成数据结果不准确,影响测量过程的正常进行。
  3.物体表面粗糙程度
  对于被测物体的表面不宜太过粗糙,因为粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光学测量仪的测量精度,造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑,以保证测量结果的精确性。
深圳市创思达科技有限公司(www.szmilum.com)主营mm610孔铜测厚仪,mm615面铜测厚仪,mm805铜厚测量仪等产品
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