膜厚仪也称为涂层测厚仪、镀层测厚仪或漆膜测厚仪。不同类型的测厚仪可以通过磁法、涡流法、超声波法、电解法和辐射法检测金属基体外面涂层的厚度。不同的测厚仪应用原理也不同，丈量精度也各有差异，常用的涂层测厚仪一般支持磁测厚和涡流测厚。相对而言，磁法具有较高的丈量精度，但这种措施也有必定的局限性。

　　膜厚仪的优点：

　　1、非接触式测量：光学膜厚仪采用的原理是通过光的反射原理对膜层厚度进行测量，属于非接触式测量方法，不会对样品造成任何损伤，能够保证样品的完整性。

　　2、测量数据多样：可以测得物体的膜厚度和n，k数据，这是其它类型的膜厚仪所不具备的特点。

　　3、测量快速：光学膜厚仪的测量过程非常快速，因为该设备采用了先进的结构设计，能够ji大程度的提升测量效率，相比于其他类型膜厚测量设备来说显得非常轻巧方便。

　　4、适用范围广：光学膜厚仪的适用范围非常广泛，从普通家用到工厂的工业生产，再到大学实验室和科学研究所，都可以看到它的身影，由此可见它的使用范围极其广泛，能够作业的场合也变得更加多样化。

　　膜厚仪使用注意事项：

　　1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

　　2、在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。

　　3、在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

　　4、在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

　　5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

　　6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的电镀膜厚仪检测仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

　　7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

　　8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此铝板预涂油膜厚仪在进行对侧头清除附着物质。