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薄膜测厚仪有哪些特点呢?
更新时间:2023-02-12   点击次数:598次
  铜厚测量仪是一种接触式测厚设备,多采用高精度传感器,因为它的测试只和微小位移有关,所以对试样没有选择性。机械式测厚仪的测试精度主要取决于位移传感器的精度,环境温度和风速会影响传感器的精度,因此必须在实验室环境内使用。
  铜厚测量仪使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量,可进行高精度膜厚度、光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间上,能达到1秒/点的高速测量,并且搭载了即使是初次使用的用户,也可容易出分析光学常数的软件。
  铜厚测量仪的主要测量方法是机械接触,可以严格按照标准要求确保测试的标准化和准确性。同时,在使用本仪器进行测量时,也应注意不要使本仪器所测量的产品超出量程,否则容易造成测厚精度的问题。测厚仪检测系统具有支持数据实时显示、自动统计、打印等功能,使客户能够更加方便快捷地获得检测结果,从而有效提高检测效率。本仪器的系统通常采用微电脑控制,显示器还配备了液晶,也为大家提供了更加人性化的操作界面。
  铜厚测量仪特点:
  1.通过显微光谱法测量高精度反射率(多层膜厚度,光学常数);
  2.头部集成了薄膜厚度测量所需功能;
  3.区域传感器的安全机制;
  4.显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外);
  5.高速测量;
  6.测量头对应各种客制化需求;
  7.易于分析向导,初学者也能够进行光学常数分析;
  8.支持各种自定义。
深圳市创思达科技有限公司(www.szmilum.com)主营mm610孔铜测厚仪,mm615面铜测厚仪,mm805铜厚测量仪等产品
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