膜厚仪标准片的技术参数：
●膜厚仪标准片测量方法：磁感应或涡流式
●测量精度：1%±0.1μm依照参考标准片
●膜厚仪标准片测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)
●分辨率：0.1μm
●zui小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹)
●zui小测量面积 φ20mm
●zui小基体厚度 0.35mm
●膜厚仪标准片适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定
●存储量：12，400条读数
●低铁和无铁层厚度：12 mils(305μm)
●膜厚仪标准片尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池）
●单位：英制和公制，可转换
●电池：9伏干电池或充电电池
●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，zui高值，zui低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图
●接口：RS-232串行输出端口
●显示：1/2英寸背光液晶显示屏
●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键
●膜厚仪标准片扫描特征：在扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值）
●膜厚仪标准片品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国