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描述膜厚仪标准片的技术参数
发布时间:2015-06-23   点击次数:905次
膜厚仪标准片的技术参数:
●膜厚仪标准片测量方法:磁感应或涡流式
●测量精度:1%±0.1μm依照参考标准片
膜厚仪标准片测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
●分辨率:0.1μm
●zui小曲率半径 5mm(凸);25mm(凹)
●zui小测量面积 φ20mm
●zui小基体厚度 0.35mm
膜厚仪标准片适用标准:磁感应遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定
●存储量:12,400条读数
●低铁和无铁层厚度:12 mils(305μm)
膜厚仪标准片尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含电池)
●单位:英制和公制,可转换
●电池:9伏干电池或充电电池
●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,zui高值,zui低值,由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图
●接口:RS-232串行输出端口
●显示:1/2英寸背光液晶显示屏
●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键
膜厚仪标准片扫描特征:在扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值)
●膜厚仪标准片品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国
深圳市创思达科技有限公司(www.szmilum.com)主营mm610孔铜测厚仪,mm615面铜测厚仪,mm805铜厚测量仪等产品
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