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X射线金属镀层测厚仪 价格
MicronX射线金属镀层测厚仪是一种专门应用于半导体材料、电子器件、微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜厚度测量。测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套系统完成的。
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XRF-2000维修
我司是韩国Micro Pioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪中国区一级专业资深代理商,集销售、保养、校正(调试)及维修等专业服务一体化;长期提供XRF-2000测厚仪*零配件。
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