产品展示
当前位置:首页 > 全部产品 > > X射线镀层测厚仪 > X射线金属镀层测厚仪 价格

X射线金属镀层测厚仪 价格

分享到:

    Micron X射线金属镀层测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。 检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍。通过高精密度样品台可提供元素面分布图。 可对多达6层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。

MicronX 利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术*地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。

MicronX 可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份,测量厚度可以从埃(?)至微米(um),它也能测量多至20个元素的块状合金成份。测定元素:Ti ~ U 。

其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术使得MicronX 能zui佳地解决您的应用。在准确度和重现性上具有*的性能。

测量更小、更快、更薄
MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套系统完成的。
更多详细资料,索取。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

深圳市创思达科技有限公司(www.szmilum.com)主营mm610孔铜测厚仪,mm615面铜测厚仪,mm805铜厚测量仪等产品
粤ICP备18064619号 技术支持:化工仪器网
GoogleSitemap 管理登陆
联系人
在线客服
用心服务成就你我